文献
J-GLOBAL ID:200902000075083558
整理番号:90A0278043
RHEED,Raman,X線を用いたSimGenひずみ単層超格子の研究
Investigation of SimGen strained monolayer superlattices by RHEED, Raman, and X-ray techniques.
著者 (3件):
ARBET V
(Univ. California, CA, USA)
,
CHANG S J
(Univ. California, CA, USA)
,
WANG K L
(Univ. California, CA, USA)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
183
ページ:
57-63
発行年:
1989年12月30日
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)