文献
J-GLOBAL ID:200902001861015422
整理番号:87A0139362
冷却CMOS素子におけるホットキャリア効果の解析
Analyzing hot-carrier effects on cold CMOS devices.
著者 (3件):
BIBYK S B
(Ohio State Univ., OH, USA)
,
WANG H
(Ohio State Univ., OH, USA)
,
BORTON P
(Ohio State Univ., OH, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Electron Devices
(IEEE Transactions on Electron Devices)
巻:
34
号:
1
ページ:
83-88
発行年:
1987年01月
JST資料番号:
C0222A
ISSN:
0018-9383
CODEN:
IETDAI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)