文献
J-GLOBAL ID:200902001990594013
整理番号:89A0318917
多結晶アルミニウム,コバルト,ニッケル,パラジウム,銀および金膜の抵抗率の温度および膜厚依存性
Temperature and thickness dependence of the resistivity of thin polycrystalline aluminium, cobalt, nickel, palladium, silver and gold films.
著者 (1件):
DE VRIES J W C
(Philips Research Lab., Eindhoven, NLD)
資料名:
Thin Solid Films
(Thin Solid Films)
巻:
167
ページ:
25-32
発行年:
1988年12月15日
JST資料番号:
B0899A
ISSN:
0040-6090
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)