文献
J-GLOBAL ID:200902001999666076
整理番号:89A0042381
GaAs(100)の表面粗さの定量的RHEED測定
Quantitative reflection high-energy electron diffraction measurements of surface roughness in GaAs(100).
著者 (3件):
HELLER E J
(Univ. Wisconsin-Madison, WI, USA)
,
SAVAGE D E
(Univ. Wisconsin-Madison, WI, USA)
,
LAGALLY M G
(Univ. Wisconsin-Madison, WI, USA)
資料名:
Journal of Vacuum Science & Technology. A. Vacuum, Surfaces and Films
(Journal of Vacuum Science & Technology. A. Vacuum, Surfaces and Films)
巻:
6
号:
3 Pt.2
ページ:
1484-1485
発行年:
1988年05月
JST資料番号:
C0789B
ISSN:
0734-2101
CODEN:
JVTAD6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)