文献
J-GLOBAL ID:200902002008687379
整理番号:90A0101129
サーメット薄膜の電気抵抗に及ぼす酸化の影響
Effects of oxidation on the electrical resistance of cermet thin films.
著者 (3件):
KATNANI A D
(IBM Corp., New York, USA)
,
MATIENZO L J
(IBM Corp., New York, USA)
,
EMMI F
(IBM Corp., New York, USA)
資料名:
Journal of Materials Science Letters
(Journal of Materials Science Letters)
巻:
8
号:
10
ページ:
1177-1178
発行年:
1989年10月
JST資料番号:
D0919B
ISSN:
0261-8028
CODEN:
JMTSAS
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)