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文献
J-GLOBAL ID：200902002022594588
整理番号：87A0202928
多レベル試験パターンの生成と検証環境
A multi-level test pattern generation and validation environment.
STAMELOS I
(Univ. Thessaloniki, GRC)
,
MELGARA M
(Centro Studi e Lab. Telecomunicazioni, Torino, ITA)
,
PAOLINI M
(Centro Studi e Lab. Telecomunicazioni, Torino, ITA)
,
MORPURGO S
(Olivetti-VLSI Design Center, Ivrea, ITA)
,
SEGRE C
(Olivetti-VLSI Design Center, Ivrea, ITA)
資料名：
Proceedings. International Test Conference
(Proceedings. International Test Conference)
巻： 1986 ページ： 90-96 発行年： 1986年
JST資料番号： E0211B ISSN： 1089-3539 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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