文献
J-GLOBAL ID:200902015600882987
整理番号:85A0430340
0~200mTの局所磁気誘導への臨界電流密度依存性の測定
Measurements on the critical current density dependence on the local magnetic induction in the range of 0-200 mT.
著者 (3件):
DE REUVER J L
(Twente Univ. Technology, The Netherlands)
,
NIJHUIS A
(Twente Univ. Technology, The Netherlands)
,
VAN DE KLUNDERT L J M
(Twente Univ. Technology, The Netherlands)
資料名:
Proceedings of the International Cryogenic Engineering Conference
(Proceedings of the International Cryogenic Engineering Conference)
巻:
10th
ページ:
594-596
発行年:
1984年
JST資料番号:
B0803A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)