文献
J-GLOBAL ID:200902015622825316
整理番号:91A0816784
因子分析法による還元In2O3/μc-Si:H界面の研究
Study of the Reduced In2O3/μc-Si:H Interface by Means of Factor Analysis.
著者 (2件):
DE NIJS J M M
(Eindhoven Univ. Technology, Eindhoven, NLD)
,
AARTS R G K M
(Eindhoven Univ. Technology, Eindhoven, NLD)
資料名:
Surface and Interface Analysis
(Surface and Interface Analysis)
巻:
17
号:
9
ページ:
628-634
発行年:
1991年08月
JST資料番号:
E0709A
ISSN:
0142-2421
CODEN:
SIANDQ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)