文献
J-GLOBAL ID:200902015632265807
整理番号:86A0334666
DIP 診断プロセッサ
DIP - A diagnostics processor.
著者 (1件):
SHALEM S
(National Semiconductor (Israel))
資料名:
Proceedings. International Test Conference
(Proceedings. International Test Conference)
巻:
1985
ページ:
271-278
発行年:
1985年
JST資料番号:
E0211B
ISSN:
1089-3539
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)