文献
J-GLOBAL ID:200902015682091052
整理番号:85A0132466
スナップバック MOS素子の安定な再生的降伏モード
Snap-back: A stable regenerative breakdown mode of MOS devices.
著者 (5件):
OCHOA A JR
(Sandia National Lab., NM)
,
SEXTON F W
(Sandia National Lab., NM)
,
WROBEL T F
(Sandia National Lab., NM)
,
HASH G L
(Sandia National Lab., NM)
,
SOKEL R J
(INMOS, CO)
資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻:
30
号:
6
ページ:
4127-4130
発行年:
1983年12月
JST資料番号:
C0235A
ISSN:
0018-9499
CODEN:
IETNAE
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)