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文献
J-GLOBAL ID:200902015722322419   整理番号:84A0448177

レーザ励起イオン質量分析によるバルク試料のマイクロアナリシス

Microanalysis of bulk samples by laser-induced ion mass analysis.
著者 (5件):
EVANS C A JR
(Charles Evans & Assoc., CA)
GRIFFITHS B W
(Cambridge Mass Spectrometry Ltd., England)
DINGLE T
(Cambridge Mass Spectrometry Ltd., England)
SOUTHAN M J
(Univ. Cambridge)
NINHAM A J
(Univ. Cambridge)

資料名:
Microbeam Analysis  (Microbeam Analysis)

巻: 18th  ページ: 101-105  発行年: 1983年 
JST資料番号: E0776B  ISSN: 0278-1727  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 解説  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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