文献
J-GLOBAL ID:200902015722322419
整理番号:84A0448177
レーザ励起イオン質量分析によるバルク試料のマイクロアナリシス
Microanalysis of bulk samples by laser-induced ion mass analysis.
著者 (5件):
EVANS C A JR
(Charles Evans & Assoc., CA)
,
GRIFFITHS B W
(Cambridge Mass Spectrometry Ltd., England)
,
DINGLE T
(Cambridge Mass Spectrometry Ltd., England)
,
SOUTHAN M J
(Univ. Cambridge)
,
NINHAM A J
(Univ. Cambridge)
資料名:
Microbeam Analysis
(Microbeam Analysis)
巻:
18th
ページ:
101-105
発行年:
1983年
JST資料番号:
E0776B
ISSN:
0278-1727
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
解説
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)