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J-GLOBAL ID：200902064127113157 整理番号：91A0692062

STMによるSi(001)面上のGe蒸着膜の微細構造観察

STM Observation of Fine Structures of Ge Films Deposited on Si(001).

著者 (3件)：

岩脇文和

(東京工大)

富取正彦

(東京工大)

西川治

(東京工大)

資料名：

日本物理学会講演概要集(分科会) (日本物理学会分科会講演予稿集)

巻： 1991 号： Spring Pt 2 ページ： 513 発行年： 1991年03月
JST資料番号： S0872B 資料種別：会議録 (C)
発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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