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文献
J-GLOBAL ID：200902131016999945
整理番号：96A0165743
イオンビーム誘起電荷顕微鏡法における非連結接合コントラスト
Unconnected junction contrast in ion beam induced charge microscopy.
KOLACHINA S
(National Univ. Singapore, Singapore)
,
ONG V K S
(National Univ. Singapore, Singapore)
,
CHAN D S H
(National Univ. Singapore, Singapore)
,
PHANG J C H
(National Univ. Singapore, Singapore)
,
OSIPOWICZ T
(National Univ. Singapore, Singapore)
,
WATT F
(National Univ. Singapore, Singapore)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 68 号： 4 ページ： 532-534 発行年： 1996年01月22日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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