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文献
J-GLOBAL ID：200902131055150507
整理番号：01A0842269
薄層の亀裂ネットワークのフラクトグラフィ
Fractography of crack networks in thin layers.
LAUSCHMANN H
(Czech Technical Univ., Prague, CZE)
,
WETZIG K
(Inst. Solid State and Materials Res., Dresden, DEU)
,
MENZEL S
(Inst. Solid State and Materials Res., Dresden, DEU)
,
GOEBEL T
(Inst. Solid State and Materials Res., Dresden, DEU)
資料名：
Materials Characterization
(Materials Characterization)
巻： 46 号： 2/3 ページ： 105-111 発行年： 2001年02月
JST資料番号： D0448C ISSN： 1044-5803 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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