文献
J-GLOBAL ID:200902133910219601
整理番号:01A1038796
MOSFETフリッカ雑音のばらつきのバイアス依存性
Modeling of Bias Dependent Fluctuations of Flicker Noise of MOSFETs.
著者 (8件):
園田賢一郎
(三菱電機 ULSI技開セ)
,
谷沢元昭
(三菱電機 ULSI技開セ)
,
永久克巳
(三菱電機 ULSI技開セ)
,
石川清志
(三菱電機 ULSI技開セ)
,
熊本敏夫
(三菱電機)
,
河野浩之
(三菱電機)
,
犬石昌秀
(三菱電機 ULSI技開セ)
,
井上靖朗
(三菱電機 ULSI技開セ)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
101
号:
318(VLD2001 68-72)
ページ:
13-18
発行年:
2001年09月27日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)