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文献
J-GLOBAL ID：200902165030937318
整理番号：97A0079223
Full digital low harmonic impact UPS: from theory to laboratory test.
BRAMBILLA E
(SIEL s.p.a, Trezzano Rosa (MI), ITA)
,
DEZZA F C
(Politecnico di Milano-Milano, ITA)
,
CHIESA E
(Politecnico di Milano-Milano, ITA)
,
MONTI A
(Politecnico di Milano-Milano, ITA)
資料名：
Proceedings. MELECON ’96 - Industrial Applications in Power Systems, Computer Science and Telecommunications, Vol.3
(Proceedings. MELECON '96 - Industrial Applications in Power Systems, Computer Science and Telecommunications, Vol.3)
ページ： 1219-1222 発行年： 1996年
JST資料番号： K19960675 ISBN： 0-7803-3110-9 資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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