文献
J-GLOBAL ID:200902165102796110
整理番号:98A0735442
Au及びNi膜の損傷しきい値の電子-フォノン結合への依存性
Damage threshold dependence on electron-phonon coupling in Au and Ni films.
著者 (4件):
GUEDDE J
(Freie Univ. Berlin, Berlin, DEU)
,
HOHLFELD J
(Freie Univ. Berlin, Berlin, DEU)
,
MUELLER J G
(Freie Univ. Berlin, Berlin, DEU)
,
MATTHIAS E
(Freie Univ. Berlin, Berlin, DEU)
資料名:
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻:
127/129
ページ:
40-45
発行年:
1998年05月
JST資料番号:
B0707B
ISSN:
0169-4332
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)