文献
J-GLOBAL ID:200902165107441922
整理番号:99A0628822
CuリッチCuGaSe2薄膜のミクロ構造
Microstructure of Cu-rich CuGaSe2 Thin Films.
著者 (6件):
NADENAU V
(Univ. Stuttgart, Stuttgart, DEU)
,
SCHOCK H W
(Univ. Stuttgart, Stuttgart, DEU)
,
KREJCI M
(Swiss Federal Inst. Technol., Zuerich, CHE)
,
HAUG F-J
(Swiss Federal Inst. Technol., Zuerich, CHE)
,
TIWARI A N
(Swiss Federal Inst. Technol., Zuerich, CHE)
,
ZOGG H
(Swiss Federal Inst. Technol., Zuerich, CHE)
資料名:
Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena
(Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena)
巻:
67/68
ページ:
397-401
発行年:
1999年
JST資料番号:
T0583A
ISSN:
1012-0394
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)