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文献
J-GLOBAL ID:200902165213382579   整理番号:95A0991707

Demonstration of a focused ion-beam cross-sectioning technique for ultrastructural examination of resin-dentin interfaces.

著者 (5件):
VAN MEERBEEK B
(Univ. Texas Health Sci. Center at San Antonio, Texas, USA)
CONN L J JR
(Univ. Texas Health Sci. Center at San Antonio, Texas, USA)
DUKE E S
(Univ. Texas Health Sci. Center at San Antonio, Texas, USA)
SCHRAUB D
(Sony Microelectronics, Texas, USA)
GHAFGHAICHI F
(Accurel Systems, Texas, USA)

資料名:
Dental Materials  (Dental Materials)

巻: 11  号:ページ: 87-92  発行年: 1995年03月 
JST資料番号: D0009C  ISSN: 0109-5641  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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