文献
J-GLOBAL ID:200902165213382579
整理番号:95A0991707
Demonstration of a focused ion-beam cross-sectioning technique for ultrastructural examination of resin-dentin interfaces.
著者 (5件):
VAN MEERBEEK B
(Univ. Texas Health Sci. Center at San Antonio, Texas, USA)
,
CONN L J JR
(Univ. Texas Health Sci. Center at San Antonio, Texas, USA)
,
DUKE E S
(Univ. Texas Health Sci. Center at San Antonio, Texas, USA)
,
SCHRAUB D
(Sony Microelectronics, Texas, USA)
,
GHAFGHAICHI F
(Accurel Systems, Texas, USA)
資料名:
Dental Materials
(Dental Materials)
巻:
11
号:
2
ページ:
87-92
発行年:
1995年03月
JST資料番号:
D0009C
ISSN:
0109-5641
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)