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J-GLOBAL ID：200902179449474769 整理番号：95A0225232

電界放射探針評価型STM/STSによる表面分析

Surface Analysis by a STM/STS with a Tip-evaluation Mechanism Utilizing Field Emission.

著者 (3件)：

菅田慶一

(東京工大大学院総合理工学研究科)

富取正彦

(北陸先端科学技術大学院大)

高柳邦夫

(東京工大大学院総合理工学研究科)

資料名：

日本物理学会講演概要集(分科会) (日本物理学会分科会講演予稿集)

巻： 1994 号： Autumn Pt 2 ページ： 408 発行年： 1994年09月
JST資料番号： S0872B 資料種別：会議録 (C)
発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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