文献
J-GLOBAL ID:200902212373881367
整理番号:09A0247823
Pbフリーはんだの面間破壊靭性
Interfacial fracture toughness of Pb-free solders
著者 (4件):
HAYES S.m.
(Advanced Packaging and Systems Integration, Freescale Semiconductor, Tempe, AZ 85284, USA)
,
HAYES S.m.
(School of Materials, Fulton School of Engineering, Arizona State Univ., Tempe, AZ 85287-8706, USA)
,
CHAWLA N.
(School of Materials, Fulton School of Engineering, Arizona State Univ., Tempe, AZ 85287-8706, USA)
,
FREAR D.r.
(Advanced Packaging and Systems Integration, Freescale Semiconductor, Tempe, AZ 85284, USA)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
49
号:
3
ページ:
269-287
発行年:
2009年03月
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)