文献
J-GLOBAL ID:200902212377256807
整理番号:09A0759611
AFM探針スクラッチナノ加工による強磁性パターン薄膜の狭窄化
Constriction of Ferromagnetic Patterned Thin Film by Nano Scratching using AFM cantilever
著者 (4件):
菅沼秀教
(横浜国大)
,
JANG Kyungmin
(横浜国大)
,
山田努
(横浜国大)
,
竹村泰司
(横浜国大)
資料名:
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
109
号:
89(EMD2009 14-20)
ページ:
7-10
発行年:
2009年06月12日
JST資料番号:
S0532B
ISSN:
0913-5685
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)