文献
J-GLOBAL ID:200902212477447790
整理番号:07A0514993
融解フリップチップはんだ接合部に対する陽極Al相互接続におけるエレクトロマイグレーションの効果
Effect of electromigration in the anodic Al interconnect on melting of flip chip solder joints
著者 (4件):
OUYANG Fan-yi
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, UCLA, Los Angeles, California 90095-1595)
,
TU K. N.
(Dep. of Materials Sci. and Engineering, UCLA, Los Angeles, California 90095-1595)
,
KAO Chin-li
(Advanced Semiconductor Engineering, Kaohsiung, Taiwan 811, Republic of China)
,
LAI Yi-shao
(Advanced Semiconductor Engineering, Kaohsiung, Taiwan 811, Republic of China)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
90
号:
21
ページ:
211914-211914-3
発行年:
2007年05月21日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)