文献
J-GLOBAL ID:200902226781308137
整理番号:09A0947413
HTS薄膜における臨界電流密度の誘導性計測法の数値シミュレーション:DC磁場が精度に及ぼす影響
Numerical Simulation of Inductive Measurement Method for Critical Current Density in HTS Thin Film: Influence of DC Magnetic Field on Accuracy
著者 (2件):
TAKAYAMA Teruou
(Yamagata Univ., Yamagata, JPN)
,
KAMITANI Atsushi
(Yamagata Univ., Yamagata, JPN)
資料名:
IEEE Transactions on Applied Superconductivity
(IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻:
19
号:
3,Pt.3
ページ:
3573-3576
発行年:
2009年06月
JST資料番号:
W0177A
ISSN:
1051-8223
CODEN:
ITASE9
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)