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文献
J-GLOBAL ID：201402229553005050
整理番号：14A0166722
クラックを含む高温超電導薄膜中の遮蔽電流密度を解析する精確で安定な数値手法
Accurate and Stable Numerical Method for Analyzing Shielding Current Density in High-Temperature Superconducting Film Containing Cracks
KAMITANI Atsushi
(Yamagata Univ.)
,
TAKAYAMA Teruou
(Yamagata Univ.)
,
SAITOH Ayumu
(Univ. of Hyogo)
,
NAKAMURA Hiroaki
(National Inst. for Fusion Sci.)
資料名：
Plasma and Fusion Research (Web)
(Plasma and Fusion Research (Web))
巻： 7 ページ： 2405024-2405024 (J-STAGE) 発行年： 2012年
JST資料番号： U0045A ISSN： 1880-6821 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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