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文献
J-GLOBAL ID：201402241701725122
整理番号：14A0146102
SRAMのための製造後の自己改善方式の下でのPFETのNBTIの信頼性
NBTI Reliability of PFETs under Post-Fabrication Self-Improvement Scheme for SRAM
ALIAS Nurul Ezaila
(Univ. of Tokyo, Tokyo, JPN)
,
KUMAR Anil
(Univ. of Tokyo, Tokyo, JPN)
,
SARAYA Takuya
(Univ. of Tokyo, Tokyo, JPN)
,
MIYANO Shinji
(Semiconductor Technol. Academic Res. Center (STARC), Yokohama-shi, JPN)
,
HIRAMOTO Toshiro
(Univ. of Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名：
IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： E96-C 号： 5 ページ： 620-623 発行年： 2013年05月01日
JST資料番号： L1370A ISSN： 0916-8524 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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