文献
J-GLOBAL ID:201402263212441379
整理番号:14A0970075
高レートビームトラッキング用シリコン検出器のテスト
著者 (13件):
谷田聖
(Seoul National Univ., Seoul)
,
YOON Choonjae
(Seoul National Univ., Seoul)
,
BHANG Hyoungchan
(Seoul National Univ., Seoul)
,
KIM Mijung
(Seoul National Univ., Seoul)
,
KIM Sunji
(Seoul National Univ., Seoul)
,
藤岡宏之
(京大 大学院理学研究科)
,
浅野秀光
(京大 大学院理学研究科)
,
佐田優太
(京大 大学院理学研究科)
,
三輪浩司
(東北大 大学院理学研究科)
,
本多良太郎
(東北大 大学院理学研究科)
,
真壁佳佑
(東北大 大学院理学研究科)
,
堀田智明
(大阪大 核物理研究セ)
,
住浜水季
(岐阜大 教育)
資料名:
ELPH Annual Report
(ELPH Annual Report)
巻:
1
ページ:
27-35
発行年:
2012年03月
JST資料番号:
S0925B
ISSN:
2186-7968
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)