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J-GLOBAL ID：201602202947994017 整理番号：16A0282156

RF-MBE法により作製したEu添加立方晶及び六方晶GaN薄膜の結晶構造の蛍光X線ホログラフィーによる評価

著者 (8件)：

弓達新治

(愛媛大工)

北村優天

(愛媛大工)

小山裕生

(愛媛大工)

宮田晃

(愛媛大工)

白方祥

(愛媛大工)

八方直久

(広島市大大学院)

細川伸也

(熊本大大学院)

林好一

(名古屋工大大学院)

資料名：

応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM) (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))

巻： 63rd ページ： ROMBUNNO.20P-S223-14 発行年： 2016年03月03日
JST資料番号： Y0054B ISSN： 2436-7613 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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