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文献
J-GLOBAL ID：201602248332754661
整理番号：16A1224165
Si/SiGe多重量子ドットの形成と電荷状態測定
大塚朋廣
(理研 CEMS)
,
武田健太
(理研 CEMS)
,
米田淳
(理研 CEMS)
,
本田拓夢
(東京工大)
,
DELBECQ Matthieu
(理研 CEMS)
,
ALLISON Giles
(理研 CEMS)
,
MARX Marian
(理研 CEMS)
,
中島峻
(理研 CEMS)
,
小寺哲夫
(東京工大)
,
小田俊理
(東京工大)
,
星裕介
(東大 生産技研)
,
宇佐美徳隆
(名古屋大 工)
,
伊藤公平
(慶応大)
,
樽茶清悟
(理研 CEMS)
資料名：
日本物理学会講演概要集(CD-ROM)
(日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 71 号： 2 ページ： ROMBUNNO.15aAB-10 発行年： 2016年09月23日
JST資料番号： S0671C ISSN： 2189-079X 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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