文献
J-GLOBAL ID:201602264265415388
整理番号:16A0977844
28nm FDSOIにおける高速,柔軟性,正および負の適応ボディバイアス発生器【Powered by NICT】
A fast, flexible, positive and negative adaptive body-bias generator in 28nm FDSOI
著者 (6件):
Blagojevic Milovan
(STMicroelectronics, Crolles, France)
,
Cochet Martin
(STMicroelectronics, Crolles, France)
,
Keller Ben
(Dept. of EECS, University of California, Berkeley, United States)
,
Flatresse Philippe
(STMicroelectronics, Crolles, France)
,
Vladimirescu Andrei
(Dept. of EECS, University of California, Berkeley, United States)
,
Nikolic Borivoje
(Dept. of EECS, University of California, Berkeley, United States)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
VLSI Circuits
ページ:
1-2
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)