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文献
J-GLOBAL ID：201702219034135076
整理番号：17A0705728
土壌における高自然バックグラウンドに対する設計されたナノ粒子を同定するための誘導結合プラズマ飛行時間型質量分析(ICP TOFMS)を用いた単一粒子多元素フィンガープリント法(spMEF)【Powered by NICT】
Single-particle multi-element fingerprinting (spMEF) using inductively-coupled plasma time-of-flight mass spectrometry (ICP-TOFMS) to identify engineered nanoparticles against the elevated natural background in soils
Praetorius Antonia
(University of Vienna, Department of Environmental Geosciences and Environmental Science Research Network, Althanstr. 14, UZA II, 1090 Vienna, Austria. thilo.hofmann@univie.ac.at frank.kammer@univie.ac.at)
,
Gundlach-Graham Alexander
,
Goldberg Eli
,
Fabienke Willi
,
Navratilova Jana
,
Gondikas Andreas
,
Kaegi Ralf
,
Guenther Detlef
,
Hofmann Thilo
,
von der Kammer Frank
資料名：
Environmental Science: Nano
(Environmental Science: Nano)
巻： 4 号： 2 ページ： 307-314 発行年： 2017年
JST資料番号： W2463A ISSN： 2051-8161 CODEN： ESNNA4 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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