文献
J-GLOBAL ID:201702242289970586
整理番号:17A0416009
平均中点局所再帰平均分離ヒストグラム等化による走査型電子顕微鏡画像システムのための局所ダイナミックレンジ補償【Powered by NICT】
Local dynamic range compensation for scanning electron microscope imaging system by average mid-point local recursive mean separate histogram equalization
著者 (3件):
Sim K. S.
(Faculty of Engineering and Technology, Multimedia University, Melaka 75450, Malaysia)
,
Teh V.
(Faculty of Engineering and Technology, Multimedia University, Melaka 75450, Malaysia)
,
Lim C. K.
(Faculty of Engineering and Technology, Multimedia University, Melaka 75450, Malaysia)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ICORAS
ページ:
1-5
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)