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文献
J-GLOBAL ID：201702258363558151
整理番号：17A0400548
GaAs PHEMT MMICの等価熱解析のための新しいメッシング基準【Powered by NICT】
A new meshing criterion for the equivalent thermal analysis of GaAs PHEMT MMICs
Xu Xiuqin
(School of Aeronautics and Astronautics, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China)
,
Mo Jiongjiong
(School of Aeronautics and Astronautics, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China)
,
Chen Wei
(School of Aeronautics and Astronautics, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China)
,
Wang Zhiyu
(School of Aeronautics and Astronautics, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China)
,
Shang Yongheng
(School of Aeronautics and Astronautics, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China)
,
Wang Yang
(School of Aeronautics and Astronautics, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China)
,
Zheng Qin
(School of Aeronautics and Astronautics, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China)
,
Wang Liping
(School of Aeronautics and Astronautics, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China)
,
Huang Zhengliang
(School of Aeronautics and Astronautics, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China)
,
Yu Faxin
(School of Aeronautics and Astronautics, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China)
資料名：
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻： 68 ページ： 30-38 発行年： 2017年
JST資料番号： C0530A ISSN： 0026-2714 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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