文献
J-GLOBAL ID:201702261608001710
整理番号:17A0328659
超低電圧パイプラインその場誤り検出技術:解析と最適化【Powered by NICT】
In Situ Error Detection Techniques in Ultralow Voltage Pipelines: Analysis and Optimizations
著者 (5件):
Jin Wei
(Columbia University, New York, NY, USA)
,
Kim Seongjong
(Columbia University, New York, NY, USA)
,
He Weifeng
(Shanghai Jiao Tong University, Shanghai, China)
,
Mao Zhigang
(Shanghai Jiao Tong University, Shanghai, China)
,
Seok Mingoo
(Columbia University, New York, NY, USA)
資料名:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
(IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)
巻:
25
号:
3
ページ:
1032-1043
発行年:
2017年
JST資料番号:
W0516A
ISSN:
1063-8210
CODEN:
ITCOB4
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)