文献
J-GLOBAL ID:201702275465127066
整理番号:17A0325265
metal/two次元半導体界面でのSchottkyおよびOhm接触を区別するための一般的基準【Powered by NICT】
General criterion to distinguish between Schottky and Ohmic contacts at the metal/two-dimensional semiconductor interface
著者 (4件):
Chen Yanwen
(Department of Physics and State Key Laboratory of Low-Dimensional Quantum Physics, Tsinghua University, Beijing 100084, People’s Republic of China. dwh@phys.tsinghua.edu.cn)
,
Li Yuanchang
,
Wu Jian
,
Duan Wenhui
資料名:
Nanoscale
(Nanoscale)
巻:
9
号:
5
ページ:
2068-2073
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2323A
ISSN:
2040-3364
CODEN:
NANOHL
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)