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文献
J-GLOBAL ID:201702283232286012   整理番号:17A1076066

ラウエ型湾曲結晶分光器による高感度XAFS

Approach to Highly Sensitive XAFS by Means of Bent Crystal Laue Analyzers
著者 (14件):
脇坂祐輝
(北海道大学触媒科学研究所)
岩崎裕也
(北海道大学触媒科学研究所)
上原広充
(北海道大学触媒科学研究所)
向井慎吾
(北海道大学触媒科学研究所)
城戸大貴
(北海道大学触媒科学研究所)
高草木達
(北海道大学触媒科学研究所)
上村洋平
(自然科学研究機構分子科学研究所)
和田敬広
(東京医科歯科大学大学院医歯学総合研究科)
YUAN Qiuyi
(北海道大学触媒科学研究所)
関澤央輝
(電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター)
宇留賀朋哉
(電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター)
宇留賀朋哉
(高輝度光科学研究センター)
岩澤康裕
(電気通信大学燃料電池イノベーション研究センター)
朝倉清高
(北海道大学触媒科学研究所)

資料名:
表面科学  (JSSSJ)

巻: 38  号:ページ: 378-383(J-STAGE)  発行年: 2017年 
JST資料番号: F0940B  ISSN: 0388-5321  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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