文献
J-GLOBAL ID:201702283314626918
整理番号:17A0055062
弁別特徴抽出に基づくVLSIレイアウトホットスポット検出【Powered by NICT】
VLSI layout hotspot detection based on discriminative feature extraction
著者 (4件):
Zhang Hang
(Department of Computer Science and Engineering, The Chinese University of Hong Kong, NT, Hong Kong)
,
Yang Haoyu
(Department of Computer Science and Engineering, The Chinese University of Hong Kong, NT, Hong Kong)
,
Yu Bei
(Department of Computer Science and Engineering, The Chinese University of Hong Kong, NT, Hong Kong)
,
Young Evangeline F. Y.
(Department of Computer Science and Engineering, The Chinese University of Hong Kong, NT, Hong Kong)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
APCCAS
ページ:
542-545
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)