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文献
J-GLOBAL ID：201702287140610153
整理番号：17A0142342
擾乱に基づくInPウエハから移動多孔質層【Powered by NICT】
Transferring porous layer from InP wafer based on the disturbance
Zhang Yang
(JR3CN&CNM, Changchun University of Science and Technology, Changchun, China)
,
Cao Liang
(JR3CN&CNM, Changchun University of Science and Technology, Changchun, China)
,
Chai Xiangyu
(JR3CN&CNM, Changchun University of Science and Technology, Changchun, China)
,
Liang Kaihua
(JR3CN&CNM, Changchun University of Science and Technology, Changchun, China)
,
Han Yonglu
(JR3CN&CNM, Changchun University of Science and Technology, Changchun, China)
,
Wang Yanqi
(JR3CN&CNM, Changchun University of Science and Technology, Changchun, China)
,
Wang Zhaoyang
(JR3CN&CNM, Changchun University of Science and Technology, Changchun, China)
,
Wang Shuting
(JR3CN&CNM, Changchun University of Science and Technology, Changchun, China)
,
Weng Zhankun
(JR3CN&CNM, Changchun University of Science and Technology, Changchun, China)
,
Wang Zuobin
(JR3CN&CNM, Changchun University of Science and Technology, Changchun, China)
,
Wang Zuobin
(JR3CN&Department of Computer Science and Technology, University of Bedfordshire Luton LU1 3JU, United Kingdom)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016 号： 3M-NANO ページ： 109-112 発行年： 2016年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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