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文献
J-GLOBAL ID：201702291149526536
整理番号：17A0299379
3単一末端トポロジー構造を用いたDC/DCコンバータのためのシングルイベント機能破壊に関する研究【Powered by NICT】
The Investigation on Single Event Function Failure for DC/DC Converters with Three Single Terminal Topological Structures
Li Pengwei
(China Academy of Space Technology)
,
Wang Wenyan
(China Academy of Space Technology)
,
Luo Lei
(China Academy of Space Technology)
,
Yu Qingkui
(China Academy of Space Technology)
,
Tang Min
(China Academy of Space Technology)
,
Du Feipeng
(East China Institute of Microelectronics Technology)
,
Liu Jie
(Lanzhou Institute of Modern Physics, Chinese Academy of Sciences)
資料名：
Dianzi Xuebao
(Dianzi Xuebao)
巻： 25 号： 6 ページ： 1097-1100 発行年： 2016年
JST資料番号： C2814A ISSN： 1022-4653 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 中国 (CHN) 言語： 英語 (EN)
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