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文献
J-GLOBAL ID：201802265796586784
整理番号：18A1763642
広角/小角X線散乱測定を用いた張力下のフレミオン膜の構造変化の可視化
藤波想
(理研)
,
星野大樹
(理研)
,
仲谷友孝
(理研)
,
高田昌樹
(理研)
,
高田昌樹
(東北大 多元物質科研)
資料名：
高分子学会予稿集(CD-ROM)
(高分子学会討論会予稿集(CD-ROM))
巻： 67 号： 2 ページ： ROMBUNNO.2H11 発行年： 2018年08月29日
JST資料番号： Z0703C 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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