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文献
J-GLOBAL ID：201802281622505877
整理番号：18A0631987
放射光光電子分光法によるGaN上GaOx層の熱脱離過程の評価
野崎幹人
(大阪大 大学院)
,
寺島大貴
(大阪大 大学院)
,
渡邉健太
(大阪大 大学院)
,
山田高寛
(大阪大 大学院)
,
吉越章隆
(原子力発電技術機構)
,
細井卓治
(大阪大 大学院)
,
志村考功
(大阪大 大学院)
,
渡部平司
(大阪大 大学院)
資料名：
応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)
(Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 65th ページ： ROMBUNNO.18p-C302-7 発行年： 2018年03月05日
JST資料番号： Y0054B ISSN： 2436-7613 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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