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J-GLOBAL ID：201802291249018779 整理番号：18A2052455

中性子反射率法を用いた塗布型有機EL素子の有機/有機界面構造評価

Neutron Reflectivity Study for Solution-processed Organic/Organic Interfacial Structures in Organic Light-emitting Devices

著者 (5件)：

大久哲

(山形大)

PU Yong-Jin

(山形大)

松葉豪

(山形大)

山田悟史

(高エネルギー加速器研究機構)

城戸淳二

(山形大)

資料名：

波紋 (Hamon)

巻： 28 号： 4 ページ： 183-186 発行年： 2018年11月10日
JST資料番号： L4558A ISSN： 1349-046X 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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