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文献
J-GLOBAL ID：202102266942563175
整理番号：21A1573774
ナノビームX線回折によるOVPE成長GaN結晶の微細構造解析
Structure analysis of OVPE-grown GaN crystals by using nanobeam X-ray diffraction
栗谷淳
(大阪大 大学院)
,
藤平哲也
(大阪大 大学院)
,
濱地威明
(大阪大 大学院)
,
林侑介
(大阪大 大学院)
,
滝野淳一
(パナソニック)
,
隅智亮
(パナソニック)
,
宇佐美茂佳
(大阪大 大学院)
,
今西正幸
(大阪大 大学院)
,
森勇介
(大阪大 大学院)
,
隅谷和嗣
(JASRI)
,
今井康彦
(JASRI)
,
木村滋
(JASRI)
,
酒井朗
(大阪大 大学院)
資料名：
応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)
(Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 68th ページ： ROMBUNNO.17a-Z27-6 発行年： 2021年02月26日
JST資料番号： Y0054B ISSN： 2436-7613 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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