自動テスト回路生成システム

文献

J-GLOBAL ID：200902008277995932 整理番号：89A0330805

An automatic circuit generation system.

出版者サイト複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=89A0330805&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=89A0330805&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0508A") }}

著者 (4件)： , , ,
資料名：
巻： 1989 号： Spring Pt.1 ページ： 1.259 発行年： 1989年03月
JST資料番号： G0508A 資料種別：会議録 (C)
記事区分：短報発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

VLSIのテスト容易化設計を自動的に行うシステムを開発した。...

,...

続きはJDreamIII（有料）にて {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=89A0330805&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=G0508A") }}

集積回路一般

前のページに戻る