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J-GLOBAL ID：200902014244907868   整理番号：91A0836747

特集 テスティング技術 階層構造を利用したASICのテスト容易化技術

Special issue : testing technology.Test simplification technology of ASIC using a hierarchical structure.
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著者 (3件)：
相京隆

相京隆 について

(富士通)

富士通 について

, 
江守道明

江守道明 について

(富士通)

富士通 について

, 
町田泰秀

町田泰秀 について

(富士通)

富士通 について


資料名：
月刊Semiconductor World  (月刊セミコンダクターワールド)

月刊Semiconductor World について


巻： 10  号： 12  ページ： 110-114  発行年： 1991年08月 
JST資料番号： Y0509A  ISSN： 0286-5025  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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各マクロをLSIの外部端子からテスト用のバスを通して直接制御...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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階層構造

階層構造 について

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準シソーラス用語：
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カスタムIC

カスタムIC について


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分類 (1件)：
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
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階層構造

階層構造 について

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ASIC

ASIC について

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テスト

テスト について

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容易

容易 について


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