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J-GLOBAL ID：200902035794055645   整理番号：92A0162097

VLSIテストCADシステム

VLSI Test CAD System.
著者 (1件)：
相京隆

相京隆 について

(富士通)

富士通 について


資料名：
Fujitsu  (Fujitsu)

Fujitsu について


巻： 43  号： 1  ページ： 72-78  発行年： 1992年01月 
JST資料番号： F0397A  ISSN： 0016-2515  CODEN： FUJTA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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大規模ASICに関する三つのテスト容易化設計(スキャンパス設...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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超LSI

超LSI について

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準シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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カスタムIC

カスタムIC について


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分類 (1件)：
分類
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固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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VLSI

VLSI について

, 
テスト

テスト について

, 
CADシステム

CADシステム について


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