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J-GLOBAL ID：200902060644849575   整理番号：90A0118090

LSI故障診断システム

A system for LSI fault diagnosis.

著者 (4件)： 山本剛 (富士通) ,  西風浩二 (富士通) ,  相京隆 (富士通) ,  町田泰秀 (富士通)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 89  号： 348(ICD89 163-174)  ページ： 67-72  発行年： 1989年12月15日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 集積回路の論理データ,そのテストパターンおよび試験結果を用い...

シソーラス用語： LSI【IC】 ,...
準シソーラス用語： 故障シミュレーション

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (2件)： LSI ,  故障診断