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J-GLOBAL ID：200902198950942238   整理番号：94A0934163

大気中AFM/STMによる化合物半導体表面電子状態の評価

Electronic Properties at Compound Semiconductor Surfaces by AFM/STM Characterization in Air.

著者 (5件)： 石川靖彦 (北大) ,  友沢秀征 (北大 工) ,  葛西誠也 (北大 工) ,  福井孝志 (北大) ,  長谷川英機 (北大)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 55th  号： 3  ページ： 1141  発行年： 1994年09月 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (6件)： 大気中 ,  AFM ,  STM ,  化合物半導体 ,  表面電子状態 ,  評価