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J-GLOBAL ID：200902236822307715   整理番号：05A0492828

BAST:BIST Aided Scan Test-テストコスト削減のための新しい手法-

BAST: BIST Aided Scan Test-A New Method for Test Cost Reduction-

著者 (3件)： 相京隆 (富士通) ,  平出貴久 (富士通研) ,  江守道明 (富士通)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D-1  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
巻： J88-D-1  号： 6  ページ： 1012-1020  発行年： 2005年06月01日 
JST資料番号： S0757B  ISSN： 0915-1915  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： LSIのテストにおいて,高い故障検出率を得ることのできるスキ...

シソーラス用語： *BIST ,...
準シソーラス用語： ATPG ,...

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分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B)

引用文献 (8件)：

• BARDELL, P. H. Built-In Test for VLSI : Pseudorandom Techniques. 1987
• NORDHOLZ, P. Signal integrity problems in deep submicron arising from interconnects between cores. Proc. IEEE VLSI Test Symposium, 1998. 1998, 28-33
• RAJSKI, J. Embedded deterministic test for low cost manufacturing test. Proc. ITC, 2002. 2002, 301-310
• WOHL, P. X-tolerant compression and application of scan-ATPG patterns in a BIST architecture. Proc. ITC, 2003. 2003, 727-736
• 小西秀明. ATGおよびBIST技術を応用したテストコスト削減の新手法. 信学技報. 2002, FTS2001-78

タイトルに関連する用語 (4件)： BIST ,  テスト ,  コスト削減 ,  手法