文献

J-GLOBAL ID：200902238379602221   整理番号：09A0759636

事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト

Power & Noise Aware Test Utilizing Preliminary Estimation

著者 (4件)： 埜田健治 (半導体理工学研究セ) ,  伊藤秀昭 (半導体理工学研究セ) ,  畠山一実 (半導体理工学研究セ) ,  相京隆 (半導体理工学研究セ)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 109  号： 95(DC2009 10-17)  ページ： 29-30  発行年： 2009年06月12日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 低電力設計の進展とともに,テスト時の電力消費とIRドロップの問題は重大化している。過剰な電力消費やIRドロップによるテスタフェールやクロックの遅れによる見逃し不良などが現場での問題として認識されている。本論文では,電力およびノイズを考慮したスキャンテスト方法を提案する。その特徴は,事前のテスト時電力・ノイズの見積り結果に基づき,テスト容易化設計(DFT)やテスト生成(ATPG)を実行する点にある。評価実験によりスキャンシフト時およびスキャンキャプチャ時のIRドロップが効果的に低減されることを示す。(著者抄録)

シソーラス用語： *回路試験 ,  電力消費 ,  遅れ ,  雑音 ,  *回路設計 ,  テストパターン ,  回路試験器 ,  評価試験 ,  電圧降下
準シソーラス用語： ATPG ,  IRドロップ ,  *スキャンテスト ,  *テスト容易化設計 ,  ノイズ ,  遅延

分類 (2件)： CAD,CAM  (JE10000A) ,  電子回路一般  (NC05010N)

タイトルに関連する用語 (3件)： 見積り ,  ノイズ ,  テスト